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薄膜seebeck 系數(shù)和電阻率 - 薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)
點擊次數(shù)：1086 發(fā)布時間：2015/7/8
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本產品采用準動態(tài)測量法，可同時測量薄膜材料的 seebeck 系數(shù)和電阻率，測溫范圍達到
80K~600K。

硬件特點
動態(tài)法測量 seebeck 系數(shù)，避免了靜態(tài)法測量在溫差測量上面的系統(tǒng)誤差，測量更準確

?

采用雙向加熱系統(tǒng)，出現(xiàn)測試壞點，可以重新測試
?

seebeck 系數(shù)和電阻率測量測量不共用電壓探針，避免出現(xiàn)微型熱電偶斷裂失效的問題
?

軟件操作簡單，智能化可實現(xiàn)手動、自動模式

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