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微-納米薄膜熱導率測量-薄膜熱導率測試系統(TCT)

點擊次數:1229 發布時間:2015/7/8
提 供 商: 上海昊擴科學器材有限公司 資料大小: JPG
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   本儀器采用 3ω測試方法, 利用微/納米薄膜材料導熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導率。
主要應用范圍為微/納米薄膜材料的熱導率測量,可廣泛應用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開
發,其涵蓋范圍包括高等院校及科研院所、集成電路散熱材料、航空航天材料、熱電材料與器件、
信息存儲與光電器件。

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